Co-organisateurs : D. Thiaudière (SOLEIL) ; C. Prestipino (Inst. Chim., Rennes)
L'outil standard pour étudier la structure atomique est la cristallographie, cependant, la cristallographie classique n’est pas toujours suffisante pour une caractérisation approfondie de la matière, notamment pour les matériaux complexes. En particulier les systèmes désordonnés, composites, nanométriques ou nanostructurés, qui jouent un rôle croissant dans la vie quotidienne dans le domaine de l’électronique, la conversion d'énergie, la médecine…. Le colloque proposé fournit un forum interdisciplinaire qui permettra de présenter les progrès récents dans le domaine de couplage de techniques basées sur certains processus d’interaction rayonnement/matière.
Plus spécifiquement, ce colloque vise à réunir des scientifiques travaillant dans des domaines différents où la caractérisation des matériaux nécessite le couplage de techniques complémentaires à la diffraction. Ainsi, le colloque couvrira les sujets d'état de l'art actuel en caractérisation multi-technique: la cristallographie locale (diffusion diffuse, fonction de distribution de paires), la diffusion/diffraction résonante et la spectroscopie (EXAFS, XRF, IR, Raman, RMN ...). En outre, le symposium sera le lieu où les expériences de caractérisation simultanées ou de méthodes d’analyse associant plusieurs techniques seront présentées. Un accent particulier sera mis sur la complémentarité de l'information et sur les forces et les pièges les plus courants de cette approche multi-technique.
Conférence invitée :
S. Daviero-Minaud (UCCS Villeneuve d'Ascq, Université Lille 1)
"Diffraction des rayons X, DANES et XANES une complémentarité décisive pour la caractérisation de nanofeuillets : exemple de l¹exfoliation d¹oxybromures de cobalt bidimensionnels"
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