Session 7 : Cristallographie en science des matériaux


Co-organisateurs : M. Legros (CEMES, Toulouse), A. Deschamps (SIMaP Grenoble)

Les propriétés des matériaux, qu’elles soient fonctionnelles (électriques, électroniques, magnétiques, optiques, …) ou structurales (mécaniques) sont contrôlées par l’arrangement des atomes sur de nombreuses échelles. La structure cristallographique joue souvent un rôle essentiel, mais la microstructure (solutés, dislocations, joints de grains, interfaces), qui va de l’échelle nanométrique jusqu’à l’échelle du micron voire du mm et au-delà peut devenir prépondérante pour certaines propriétés.  La genèse de cette microstructure qui peut être complexe, intégrant un grand nombre de défauts cristallins, de phases et d’espèces chimiques est contrôlée par les procédés d’élaboration et de transformation.

Ce symposium s’intéressera aux études cristallographiques à toutes les échelles rencontrées dans les matériaux, à la fois sur les aspects structuraux, chimiques, mais également aux propriétés associées. Les outils d’analyse pourront associer notamment la microscopie (notamment électronique), les techniques de tomographie, et les techniques de diffraction / diffusion. Les techniques d’imagerie structurale, particulièrement adaptées à l’étude des microstructures, seront particulièrement concernées, ainsi que les analyses in-situ et in-operando permettant d’accéder aux chemins cinétiques de genèse et de modification de ces microstructures ainsi qu'à l'établissement des relations entre ces modifications et l'évolution des propriétés associées.

Cette thématique intéresse à la fois les communautés de la métallurgie physique, de la microélectronique, de la croissance cristalline et de la science des surfaces. 

Conférence invitée :
H. Renevier, LMGP, Institut National Polytechnique, Grenoble
"Apport de la diffraction anomale des rayons X à l'étude des nanostructures"

 

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